Bejelentkezés

Jelenlegi hely

2015. május 22. péntek 13-15

Időpont: 2015. május 22. péntek 13-15

Helyszín Fröhlich Pál tanterem

Előadó: Kohut Attila, témavezető: Dr. Geretovszky Zsolt

Cím: Spektroszkópiai és részecske tulajdonságok kapcsolata szikrakisüléses
generátorban előállított nano aeroszoloknál

Előadó: Somoskői Tamás, témavezetők: Dr. Osvay Károly és Dr. Vass Csaba

Cím: Lézeres roncsolás detektálási módszereinek összehasonlítása

Előadó: Gajdos Tamás, témavezető: Dr. Erdélyi Miklós

Cím: Lokalizációs mikroszkópia 3D-ben

 

Absztraktok:

Kohut Attila

A szikrakisüléses nanorészecske generátor (Spark Discharge Generator, SDG)
egy egyszerű és sokoldalú eszköz fém és félvezető nanorészecskék gáz
környezetben történő előállítására. A legelterjedtebb kísérleti
elrendezésben a két elektród között létrehozott nagyfeszültségű és nagyáramú
elektromos szikrákat egy bipoláris kondenzátortöltő áramkör táplálja. A
szikrák anyagot távolítanak el az elektródokból, melyből a környező inert
gázban nanorészecskék keletkeznek. Munkánk során egy ilyen SDG főbb
kísérleti paramétereinek (a kondenzátort töltő áram, az elektródtávolság és
az elektród anyag) részecske képződésre és a szikraközben megjelenő anyagok
emissziós tulajdonságaira gyakorolt hatását vizsgáltuk. Előadásomban
bemutatom, hogy milyen kapcsolatot találtam az SDG-ben előállított
nanorészecskék tulajdonságai és az elektródköz emissziós jele között

Somoskői Tamás

Nem sokkal az első lézerek megalkotását követően a kutatók felfedezték az
ún. optikai roncsolás jelenségét, amely az egyes optikai elemeknek a
koncentráltan jelenlévő fényenergia hatására bekövetkező károsodását
jelenti. Bár az effektus régóta ismert, jelenleg is ez a fő korlátja a
lézerrendszerekkel elérhető maximális energiáknak. A roncsolás folyamatát
általában több jelenség kíséri, ennek megfelelően különböző detektálási
módszereket fejlesztettek ki az évtizedek során.

Vizsgálatunk során négy, gyakran használt mérési eljárás érzékenységét
hasonlítottunk össze szimultán méréssel. Az első, vizsgált detektálási
módszer a minta felületéről diffúz módon visszaverődő fény mérésén alapul.

Egy ettől eltérő elven működő eljárás az abszorbeált fényenergia detektálása
fotoakusztikus elven: ennek mérése a mintához rögzített piezoelektromos
érzékelővel valamint mikrofonnal történt. Ezen kívül - referencia mérésként
- a céltárgy felületének optikai mikroszkópos vizsgálatát végeztük el.

Az eltérő mérési eljárások összehasonlításához egy új adatkiértékelési módot
dolgoztunk ki, amely a mért jelszintek valószínűségi sűrűségeloszlásának
vizsgálatán alapul. Ennek segítségével a nem vizuális jelek kiértékelésére
azonos módon történik és így a különböző detektálási módszerek érzékenysége
objektív módon összehasonlítható. Előadásomban az elméleti háttér rövid
ismertetése után áttekintem a mérés és kiértékelés lépéseit, majd bemutatom
a kapott eredményeket

Gajdos Tamás

A lokalizációs mikroszkópiára az utóbbi időben egyre nagyobb figyelem
irányul. Mivel ez a tudománynak egy fiatal részterülete, így fontos az, hogy
megismerjük a korlátait, illetve azokat kiterjesszük. Alkalmazás oldalról a
minta 3D leképezésére nagy igény mutatkozik. Ennek megvalósítására több
megoldás is létezik, amelyek azonban a lokalizációs pontosság csökkenését
hordozzák magukban. Előadásomban egy olyan mikroszkóp elrendezést mutatok
be, amelyben a mélységi információ kinyerése nem befolyásolja negatívan a
síkbeli lokalizáció pontosságát.